在半导体照明产业转型升级发展的关键时期，真正站在全球的视野，代表行业最主流声音、引领行业未来发展的第十一届中国国际半导体照明论坛（SSLCHINA 2014）将向业界传递怎样的声音、释放怎样的信号？本届论坛将于2014年11月6-8日在广州广交会威斯汀酒店盛大开幕。
来自美国国家标准技术研究所光色定量组组长Dr. Yoshi Ohno将作为论坛开幕大会的特邀报告人，将从LED照明色度学和LED照明颜色品质提升的角度向与会者分享其最新研究成果。
Dr. Yoshi Ohno 毕业于日本京都大学，之后就职于松下电器照明研究实验室。1992年开始Dr. Yoshi Ohno以光度学测量研究领头人的身份正式加入美国国家标准技术研究所（NIST），2003年-2012年一直担任光学传感器组、照明和颜色组组长，并于2010年被任命为NIST 研究员。Dr. Yoshi Ohno 涉及的研究领域非常广泛，从基础理论研究到光度学和色度学的应用全面涵盖，研究方向包括：积分球、光通量测量、光源色度学、色彩再现、光谱辐射度学、闪光灯光度学及半导体固态照明。
近来，Dr. Yoshi Ohno在LED光源颜色品质方面的研究非常活跃，他在LED光源颜色的模拟与分析方面的研究广为人知，并被广泛应用于LED照明产业化进程中。早在2008年，Dr. Yoshi Ohno领导的团队就研发了新的测试方法，可以测量出高功率LED的任何特定结温。新的测试法基于一个温度受控的热沉，利用它调节LED芯片至任何结温，这种方法比用直流测试LED输出的方法更好。这些热沉既便宜，使用又广泛，该小组表示此法适用于各种高功率LED，包括串联在一起的LED阵列。
同时，Dr. Yoshi Ohno在全球固态照明标准的推进工作方面非常活跃，他长期参与多项标准工作的制定，并担任国际照明委员会（CIE）技术副总裁，他是CIE TC2-71国际LED灯具、照度和模组测试方法的负责人，并同时担任2个分部的主席。
他曾获得多项国际大奖，如在2006年获得了Arthur S. Flemming奖；2007年获得了CIE de Boer Gold Pin 优质服务奖；2009年获得了美国商务部银质奖章。
期待Dr. Yoshi Ohno 从LED光源光色品质的角度为我们带来该方向的最新技术研究和应用成果。感谢您的关注，诚邀您的参与，2014年11月6-8日让我们相约SSLCHINA 2014行业盛会。
