随着越来越多的LED厂家进入MiniLED领域，更小的点间距依赖新的封装工艺来提升显示屏的可靠性和防护性，其中COB和四合一就是一个主要的趋势。这一趋势在为观众更好的观看体验、提升屏的可靠性和防护性能、更加节能之外，也给行业带来新的挑战。
一方面，新工艺更新之后，传统校正技术难以满足均匀性要求。如下图所示，COB校正后依然会存在明显色块。
COB校正前
COB校正后
为什么会存在这一问题？
在SMD表贴灯珠的时期, 灯的点间距较大，灯对灯的亮度干扰相对有限。另外也没有胶体的反射干扰，这样我们就可以采集到相对准确的亮度值。
而在MiniLED时代，点间距越来越小，灯与灯的物理位置越来越近，导致灯与灯的亮度相互串扰明显，图像模糊重叠等现象愈发明显。 除此之外，新工艺中表面胶体的封装，导致光在传递中二次反射影响，造成光源干扰的加剧，对采集灯珠亮色度的准确性造成了影响。
另一方面，低灰表现和高灰表现有显著差异，低灰段不一致性问题凸显。
为什么会存在这一问题？
低灰阶效果和我们的电路设计、芯片的选型、硬件控制都有关联；低灰系数又极易受到以上条件的轻微影响而实现不准确，导致效果变差。
PWM驱动带来的低灰量化误差
MiniLED校正解决方案
1. 采用科学级相机，提高测量精度。
采用符合人眼感知特性的CIE-XYZ滤片，反映人眼真实感知。
CIE-XYZ科学级相机
CIE-XYZ滤片光谱曲线
常规相机处于成本的考虑，使用简易的Bayer滤片，Bayer滤片光谱不稳定，还存在毛刺过渡不平滑，这会导致严重的光谱测量误差。
诺瓦打造的CIE-XYZ科学级相机的关键就在于CIE-XYZ滤片技术。诺瓦通过多年的滤片设计创新，持续的迭代，推出LED测量设计的滤片标定算法，确保测量的准确性。CIE-XYZ科学级相机选用多组转轮，多次测量，得到符合人眼特性的测量数据,使得校正后更加贴近人眼感知的画面效果。
2. 改进校正流程，增加消除混光处理。
诺瓦对采集图像二次处理、还原自身亮度数据，重新计数真实亮度下的校正数据。提升屏体的均匀性，使得显示效果更加细腻，这就是MiniLED全新的混光消除技术。
3. 通过全灰阶校正技术，提升灰阶表现精度。
通过光枪CA-410采集灰阶数据，再通过灰阶修正工具计算修正系数，对各灰阶进行补偿，改善非线性响应，最终通过硬件编码，在诺瓦A8s、A10s Plus接收卡上使得灰阶显示台阶问题得到优化。
我们来看一组低灰阶实拍图，看看在全灰阶校正前后的对比效果，我们会发现校正后的显示屏画面相较于校正前，麻点、色块、偏色的问题均得到了显著改善，均匀性和画面细腻度大幅提升。
这就是诺瓦推出的MiniLED校正解决方案。通过CIE-XYZ科学级校正相机，配合贴近人眼的XYZ滤片，确保MiniLED采集的准确性。全灰阶校正通过逐级灰阶测量与优化，解决灰阶实现不准的难题。
